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岱美儀器技術(shù)服務(wù)（上海）有限公司宣布，已與ThetaMetrisis達(dá)成合作協(xié)議，成為其薄膜厚度測(cè)量設(shè)備在中國(guó)大陸、香港特別行政區(qū)、馬來西亞及菲律賓市場(chǎng)的代理商。這一消息標(biāo)志著岱美將負(fù)責(zé)ThetaMetrisis旗下先進(jìn)膜厚測(cè)量解決方案在中...
當(dāng)前膜厚測(cè)量?jī)x作為一類相當(dāng)重要的測(cè)量?jī)x器，在工業(yè)生產(chǎn)當(dāng)中占據(jù)著關(guān)鍵性的地位作用。測(cè)量?jī)x可以有效測(cè)量出各種材料物質(zhì)的厚度方面，使得人們可以得到非常全面化的測(cè)量數(shù)據(jù)結(jié)果，更好地幫助人們進(jìn)行有效判斷，以此來辨別出生產(chǎn)產(chǎn)品質(zhì)量的好壞。然而有的用戶在操作測(cè)量?jī)x的時(shí)候往往馬虎大意，從而影響到了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性表現(xiàn)。那膜厚測(cè)量?jī)x的測(cè)試注意事項(xiàng)主要包括哪些呢？下面岱美儀器為您詳細(xì)的分析以下！第1點(diǎn)：大家在用測(cè)量?jī)x進(jìn)行測(cè)試使用時(shí)，要選用與試件相似的金屬磁性標(biāo)準(zhǔn)片來進(jìn)行測(cè)量，不要選擇差別或者區(qū)分...
膜厚測(cè)量?jī)x是一種比較精密的監(jiān)測(cè)設(shè)備，它在平時(shí)的使用中對(duì)于準(zhǔn)確度的要求很高，但是還是會(huì)有誤差的現(xiàn)象發(fā)生，除了儀器本身的一些故障以外，環(huán)境因素也是造成誤差的一大“元兇”，本文就介紹一下膜厚測(cè)量?jī)x在不同環(huán)境下誤差的產(chǎn)生和日常清潔保養(yǎng)：一、環(huán)境條件可能帶來的誤差：1、光柵計(jì)數(shù)尺的使用不當(dāng)會(huì)對(duì)儀器造成誤差；2、在工作臺(tái)的移動(dòng)過程中，有可能使直線角度發(fā)生偏差，從而造成測(cè)量誤差；3、工作臺(tái)中兩個(gè)測(cè)量軸務(wù)必要保持垂直，如果有偏差就會(huì)造成測(cè)量誤差；4、工作臺(tái)面和顯微鏡光軸也要保持垂直，有偏差也...
納米壓印機(jī)應(yīng)用了是一種新型的微納加工技術(shù)。該技術(shù)通過機(jī)械轉(zhuǎn)移的手段，達(dá)到了超高的分辨率，有望在未來取代傳統(tǒng)光刻技術(shù)，成為微電子、材料領(lǐng)域的重要加工手段。納米壓印機(jī)優(yōu)勢(shì)：由于納米壓印技術(shù)的加工過程不使用可見光或紫外光加工圖案，而是使用機(jī)械手段進(jìn)行圖案轉(zhuǎn)移，這種方法能達(dá)到很高的分辨率。報(bào)道的高分辨率可達(dá)2納米。此外，模板可以反復(fù)使用，無疑大大降低了加工成本，也有效縮短了加工時(shí)間。因此，納米壓印技術(shù)具有超高分辨率、易量產(chǎn)、低成本、一致性高的技術(shù)優(yōu)點(diǎn)，被認(rèn)為是一種有望代替現(xiàn)有光刻技術(shù)...
橢圓偏振儀是一種用于探測(cè)薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測(cè)量設(shè)備。由于并不與樣品接觸，對(duì)樣品沒有破壞且不需要真空。可測(cè)的材料包括：半導(dǎo)體、電介質(zhì)、聚合物、有機(jī)物、金屬、多層膜物質(zhì)?？梢詰?yīng)用于半導(dǎo)體、通訊、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、光學(xué)鍍膜、平板顯示器、科研、生物、醫(yī)藥等領(lǐng)域。主要功能：測(cè)量樣品的偏振參量信息等，可用于在線監(jiān)測(cè)，也可用于離線的樣品測(cè)試；可使用不同大小的光斑探測(cè)樣品。橢圓偏振儀的調(diào)整要點(diǎn)主要步驟：1、調(diào)整分光計(jì)；2、調(diào)共軸（注意：用校光片，先不放檢偏器調(diào)，可以用白紙防在望遠(yuǎn)...
白光干涉儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。它是以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器。儀器可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。...