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顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

FR-Ultra是一種緊湊型設(shè)備，專門用于快速、準確和無損測量半導體材料的厚/超厚層及透明層。

FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統(tǒng)。

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顯示器薄膜測量儀*的光學模塊可容納所有光學部件：分光計、復(fù)合光源(壽命10000小時)、高精度反射探頭。因此，在準確性、重現(xiàn)性和長期穩(wěn)定性方面保證了優(yōu)異的性能。

硅片厚度測量儀采用的是近紅外光(NIR)來測量膜層厚度，因此可以測試一些肉眼看是不透明的膜層( 比如半導體膜層) 。